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배율 보정 MRS-3 | Magnification Calibration MRS-3

품명 Magnification Calibration MRS-3
판매가 견적문의
브랜드 비전랩사이언스
원산지 Ted Pella, Inc. / PELCO®
4,000원
증가 감소


제품번호 :

614-1 시리

제품명 :

배율 보정 MRS-3

Magnification Calibration MRS-3



 주사 전자 현미경을 위한 10 x 50,000x 피치 표준

 


적용들

  • 전자 현미경 - SE 및 BSE 모드의 SEM, SEM/FIB 및 TEM(특수 버전 포함)
  • 주사 현미경 및 프로파일로메트리 - STM, AFM, 패턴 높이는 70nm입니다
  • 광학 현미경 - 투과, 반사, 밝은/암흑 필드, 차동 대비 및 공초점
  • 화학 매핑 - EDS, WDS, XRF, XPS, 오거 등. 패턴은 석영 위에 30nm CrO2를 40nm Cr로 사용하여 제작되었습니다
  • 입자 크기 카운팅 - 보정 확인을 위한 일련의 원, 사각형 및 직사각형


패턴 디자인

5세대 MRS-4.2는 고정밀 직접 쓰기 전자 빔 제조 장비를 사용하여 제작되었습니다. 이 패턴은 석영에서 반사 방지 크롬(30nm Cr2O/40nm Cr)입니다. 이차 모드와 후방 산란 모드 모두에서 영상 촬영이 매우 높습니다. 패턴은 모든 가속 전압에서 SEM 이미징을 가능하게 하는 독점적인 전도성 재료로 코팅되어 있습니다.


기하학적 설계

MRS-4는 1/2 ?m, 1 ?m, 2 ?m, 50 ?m, 500 ?m의 피치를 가진 중첩 사각형 그룹을 가지고 있습니다. 가장 큰 패턴은 전체 크기가 8mm 정사각형이며 선과 공간은 250?m입니다. 이것은 10배에서 100배 사이의 배율을 확인하는 데 사용할 수 있습니다. 50 ?m 피치 패턴은 100배에서 1000배까지 유용합니다. 2, 1, 1/2 ?m 피치 패턴은 최대 200,000배까지 보정할 수 있습니다. 표준에는 길이가 6mm인 X 및 Y 자와 1?m씩 증가하는 자가 포함되어 있습니다.


치수/유지 장치

MRS-4의 전체 크기는 약 9 x 9 x 2.3mm입니다. 표준은 석영으로 만들어졌기 때문에 쉽게 칩을 만들 수 있습니다. MRS-4를 위해 선택적 보호 유지 장치를 주문하는 것을 강력히 권장합니다.

표준은 초고진공 호환 전도성 은 에폭시를 사용하여 리테이너에 장착됩니다. 두 가지 선택적 보유자를 선택할 수 있습니다:

  • #614-5 ? 직경 25mm, 두께 3mm의 SEM/R. 광 투과광, SEM, FIB 및 SPM 응용에 사용할 수 있습니다. 재질은 알루미늄, Ni 도금입니다. 표준 오목: 0.5mm
  • #614-6 ? 44.5 x 25.4 x 3.2mm 광학 현미경 어댑터인 OM/R은 광학 현미경에 쉽게 맞습니다. 재질은 알루미늄입니다. 표준은 약간 움푹 들어가 있으며, 0.13mm입니다.

#614-5 SEM/R 보호 리테이너는 옵션으로 25mm 핀 스터브(주문 번호 614-62) 또는 옵션으로 Ø25 x 10mm x M4 실린더 마운트(주문 번호 614-63)에 장착할 수 있습니다.

MRS-3의 특별 버전은 (S)용으로 제공됩니다직경 3mm, 두께 500?m의 TEM. 이것은 중심 특징만 보여줄 것이며, 전송된 전자가 아닌 이차 전자와 후방 산란 전자로 볼 수 있습니다.


정확성.

영국의 NPL(NIST)에서 측정한 결과, 500 ?m의 정확도는 ±0.25 ?m, 50 ?m 및 2 ?m 패턴의 정확도는 ±0.1 ?m인 것으로 나타났습니다. 1 ?m 및 1/2 ?m 패턴의 정확도는 ±0.04 ?m입니다.


인증 보고서

인증은 ISO 지침에 따라 이루어집니다. 각 MRS-4에는 표준에 새겨진 고유한 일련 번호가 있습니다. 인증에는 일련 번호, 인증 날짜, 운영자, 사용된 기기, 실제 패턴 측정 및 정확도 측정이 포함됩니다.
NIST = 미국 국립표준기술연구소
NPL = 영국 국립 물리 연구소(NIST 대응)

Sample Certificate for MRS-4 (PDF 301KB)



제품 번호.묘사구성 단위
614-821MRS-4 참조 표준, X, 추적 불가능, 보호 리테이너 없음, 장착 해제각각
614-822MRS-4 참조 표준, X-Y, 추적 가능, 보호 리테이너 없음, 장착 해제각각
614-823MRS-4 참조 표준, X-Y-Z, 추적 가능, 보호 리테이너 없음, 장착 해제각각
614-5MRS-3/4, SEM, 1인치 다이아용 보호 리테이너. 전송 측정을 위한 투명한 구멍이 있는 x 0.125"(25.4 x 3.18mm). 표준 오목한 0.02"(0.5mm), 알루미늄, Ni 도금각각
614-7어댑터 MRS-3/4만 사용하고 AMRY, Leica를 지정합니다각각
614-6광학 현미경 어댑터 OM/R 1.75" x 1" x 0.125" 두께(44.5 x 25.4 x 3.2mm)로, 투과 측정을 위한 투명한 구멍이 있습니다. 표준 약간 오목한 0.005"(0.13mm), 알루미늄, Ni 도금각각
614-61BMRS-4를 직경 3mm x 두께 0.5mm로 수정하여 TEM 스타일 홀더에 맞춥니다. 전송되지 않고 보조 모드 또는 후방 산란 모드에서만 사용할 수 있습니다각각
614-621/8인치(3.2mm) 핀이 있는 1인치(25.4mm) 핀 스터브에 MRS-3/4 리테이너 장착, #614-5만 가능각각
614-63히타치 Ø25x10mmxM4 실린더 마운트에 MRS-3/4 리테이너 장착, #614-5만 가능각각
614-71BMRS-4 X-Y/R 청소, 재코팅 및 재보정각각
614-72BMRS-4 X-Y-Z/R 청소, 재코팅 및 재보정각각
614-73MRS-3/4/5/6 청소 및 재코팅만 가능각각

MRS 표준의 오염을 방지하기 위해 표준을 진공 상태에서 보관하는 것이 좋습니다. 핀 스텁에 장착된 MRS 스탠다드의 경우, PELCO® SEM 핀 스텁 진공 건조기가 이상적입니다.

 



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